Новости

о проводимых в музее мероприятиях, событиях и выставках

Экскурсия для Воскресной школы

Рейтинг:  5 / 5

Звезда активнаЗвезда активнаЗвезда активнаЗвезда активнаЗвезда активна
 

Сегодня наш музей посетили представители и воспитанники Воскресной школы Храма Святителя Николая города Мичуринска (настоятель – прот. Дмитрий Малюкин).

 

picture 16

Для гостей была подготовлена обзорно-тематическая экскурсия, в рамках которой дети и взрослые узнали много нового и интересного из истории нашего края. Сотрудники музея более подробно представили выставку «Церковь в истории Тамбовщины», а также Зал постоянной экспозиции, посвящённый истории Православия в нашем городе.

 

Поделиться статьей в социальных сетях:

106295491 1184006791935210 2963334177736163022 o

card pushkin neon w bank CMYK-1

vakcina

button pushkin2

ФОТОГАЛЕРЕЯ

Поклон тебе, Великая Победа! Поклон тебе, Великая Победа! Поклон тебе, Великая Победа! Поклон тебе, Великая Победа! Поклон тебе, Великая Победа! Поклон тебе, Великая Победа! Поклон тебе, Великая Победа! Поклон тебе, Великая Победа!

Текущие мероприятия

  • Выставка работ Анатолия Попова "Когда тоскует соловей…"

    (27.08.2026 14:00)
  • Выставка моделей современной военной техники армии РФ

    (04.08.2026 14:02)
  • Выставка Н. В. Донских "Возращение на родину"

    (26.06.2026 14:00)

Счётчики посещаемости

Яндекс.Метрика

 

Контактные данные

  •     393760, Тамбовская область, г. Мичуринск, ул. Советская, д. 297Г

  •     8 (47545) 5-21-70

  •    mich.kraeved.museum@mail.ru

Вышестоящая организация

Управление по развитию культуры и спорта администрации города Мичуринска

  •     8 (47545) 5-30-89

  •    cult6827@mail.ru

  •    http://michcult.ru

© Мичуринский Краеведческий Музей. Все права защищены.

Search

Мы используем cookie

Во время посещения сайта вы соглашаетесь с тем, что мы обрабатываем ваши персональные данные с использованием метрических программ. Подробнее

Мы используем cookie

Во время посещения сайта вы соглашаетесь с тем, что мы обрабатываем ваши персональные данные с использованием метрических программ. Подробнее